要测量贴片可控硅（SMD SCR）的好坏，您可以采用以下步骤：

1. 使用万用表测量：使用数字万用表（DMM）来测试可控硅的正常工作。以下是一般的测试步骤：

   a. 设置万用表为二极管测试模式（Diode Test）或晶体管测试模式（Transistor Test），具体名称和符号可能会有所不同，但通常有一个二极管符号和一个晶体管符号。

   b. 将测试探头连接到贴片可控硅的两个引脚上，确保正确对应极性。通常，可控硅有一个主极（Anode或A）和一个门极（Gate或G）。

   c. 测量可控硅的导通状态：在极性正确的情况下，当施加足够的电压到门极时，可控硅应该进入导通状态（ON状态），电阻较低，通电。您应该在万用表上看到一个低电阻值或将电表的指针指向一个导通的状态。

   d. 测量可控硅的截止状态：当不施加电压到门极时，可控硅应该进入截止状态（OFF状态），电阻较高，不导电。您应该在万用表上看到一个高电阻值或将电表的指针指向一个截止的状态。

2. 使用测试仪器：对于更精确的测试，您可以使用专业的半导体测试仪器，如晶体管测试仪或半导体测试仪。这些设备可以提供更详细的测试和分析功能，包括温度特性测试、电流-电压曲线等。

要获得特定型号和参数的贴片可控硅的信息，您可以查阅相关的数据手册、规格书或在线电子元件分销商的网站。以下是您通常可以找到的重要参数：

• 型号：每个可控硅都有一个唯一的型号标识。

• 电压额定值：可控硅可以承受的最大工作电压。

• 电流额定值：可控硅可以承受的最大工作电流。

• 门触发电流：激活可控硅的门电流，通常以毫安（mA）为单位。

• 电流灵敏度：可控硅导通状态下的电流变化与门电流的关系。

• 电压灵敏度：可控硅导通状态下的电压变化与门电流的关系。

• 封装类型：贴片可控硅的物理封装类型，例如SOT-23、SOT-223等。

• 温度范围：可控硅的工作温度范围。

您可以根据具体应用需求选择合适型号和参数的贴片可控硅。在选择时，请确保理解并满足您的电路的电压、电流和温度要求。同时，还要注意可控硅的封装类型，以确保它与您的电路板设计兼容。