温度和电压是两个常见的因素，可能会对薄膜电容器的性能产生影响。以下是温度和电压不适当对薄膜电容器的影响：

温度影响：

1. 电容值漂移： 在极端温度条件下，薄膜电容器的电容值可能会发生漂移。高温度可能导致电容值增加，而低温度可能导致电容值减小。这种漂移可能影响电路的性能，特别是在需要高精度电容值的应用中。

2. 降低绝缘电阻： 高温可能导致电容器的绝缘电阻降低，增加电流泄漏的风险。这可能在一些高阻抗电路中引起问题，特别是对绝缘电阻要求较高的场景。

3. 材料老化： 长时间处于高温环境可能导致薄膜电容器内部材料的老化，从而影响电容器的寿命和性能。

4. 薄膜变形： 高温可能导致薄膜材料发生变形，尤其是对于某些高温不稳定的材料。这可能导致电容器的结构失效或电容值发生变化。

电压影响：

1. 击穿和损坏： 过高的电压可能导致薄膜电容器击穿，从而损坏电容器。这可能会导致电容器短路或失效。

2. 电介质损伤： 长时间受到高电压作用可能导致电容器电介质的损伤。这可能导致电容器性能下降，甚至失效。

3. 内部放电： 高电压可能引起电容器内部的局部放电，产生局部热量，从而影响电容器的性能和寿命。

4. 极化效应： 过高的电压可能导致电容器极化效应的增强，这可能在某些应用中不希望发生。

在设计和使用薄膜电容器时，需要遵循制造商提供的规格和使用条件，确保电容器在规定的温度和电压范围内正常运行。在极端条件下，可能需要选择经过特殊设计以适应高温或高电压环境的电容器。