双向可控硅（Bilateral Controlled Silicon, BCT）是一种电子元件，常用于控制交流电的电压和电流。它可以在正向和反向导通状态之间切换，具有双向导通的特点。但是，如何判断双向可控硅的好坏却是有些困扰人的问题。在本文中，我们将介绍一些常用的方法来测量双向可控硅的好坏。

首先，可以使用万用表进行简单的测试。将万用表的一个探针连接到双向可控硅的端子之一，另一个探针连接到另一个端子。然后，在正常工作状态下，应该观察到一定的电阻或电压指示。如果读数为零或毫无反应，则可能表示双向可控硅故障。

其次，可以使用示波器来测试双向可控硅的工作状况。将示波器的探头连接到双向可控硅的输入和输出端子上，并将输入端与信号源连接。通过观察示波器的波形图，可以判断双向可控硅是否正常工作。正常情况下，波形应该是连续的，且具有一定的幅度。

另外，使用适当的电路进行负载测试也是一种常见的方法。通过连接双向可控硅到一个电路中，然后在正常工作状态下观察该电路的运行情况。如果电路正常工作，并有期望的输出，那么双向可控硅应该是正常的。如果电路不工作或输出不符合预期，则可能表示双向可控硅存在问题。

还有一种常见的测试方法是使用可控硅测试设备。这种设备可以通过施加特定的电信号，来测试双向可控硅的工作状态。可以设置不同的工作模式和参数，以测试双向可控硅在各种条件下的性能。

总结来说，判断双向可控硅的好坏可以通过使用万用表、示波器、负载测试和可控硅测试设备等方法。这些方法可以帮助我们判断双向可控硅是否正常工作，并找出存在的问题。对于使用双向可控硅的电路和设备来说，及时发现和解决双向可控硅的问题是非常重要的，以确保其正常运转和可靠性。