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随着集成电路的不断发展，芯片测试变得愈发重要。一种被广泛应用的芯片测试技术就是边界扫描（Boundary Scan）技术。边界扫描技术是一种无需物理接触的测试方法，它通过在集成电路设计时添加一系列专门用于测试的边界扫描逻辑，使得芯片内部各组件及其连接状态都能被扫描和测试。这种技术在芯片设计阶段就能发现并修复潜在的元件连接问题，减少了生产线上的测试时间，提高了芯片的可靠性和一致性。

边界扫描技术的原理是通过控制和观测边界分组中的逻辑函数对芯片的各个引脚进行测试。在芯片测试时，一个引脚的输出状态可被输入到其他引脚，使得整个芯片内部的连通性都能被测试。边界扫描技术还能帮助检测和诊断有缺陷的芯片，提供了更高级别的测试覆盖率和精度。

边界扫描技术在现代集成电路设计中被广泛应用。在芯片制造过程中，通过边界扫描技术检测芯片的所有引脚连通性，可减少测试时间和成本。在芯片运行过程中，通过边界扫描技术检测芯片的工作状态，可帮助快速定位和解决故障。在新产品上市时，通过边界扫描技术检测芯片的性能和可靠性，可提前发现问题并及时修复。总的来说，边界扫描技术为芯片测试提供了便捷、高效且全面的解决方案。

随着技术的不断进步，边界扫描技术也在不断发展和完善。未来，我们可以期待边界扫描技术在芯片测试领域发挥更大的作用，为电子产品的制造和应用提供更可靠的保障。

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