贴片电容通常是用于电子元件中的一种电容器，由于其小巧方便安装的特点，被广泛应用于各种电路中。然而，贴片电容在使用过程中也存在着一些问题，比如击穿问题。

击穿是指在电场作用下，绝缘材料发生放电现象，导致电容器内部短路的情况。这种情况一旦发生，会严重影响电路的正常工作，甚至导致整个电路损坏。因此，对于贴片电容而言，击穿问题是一个非常严重的失效模式。

那么，对于贴片电容击穿后，我们是否能够测到其容值呢？这个问题并不容易回答。因为一旦贴片电容击穿，其内部结构可能发生变化，导致其电气性能发生明显改变。此时，传统的测试方法很难准确测量出其容值，因为击穿后的贴片电容已经无法正常工作。

然而，一些先进的测试方法可能能够帮助我们解决这个问题。比如，通过扫描电子显微镜等高级测试设备，可以观察到贴片电容击穿的具体情况，从而进一步分析其容值是否还能够满足要求。另外，一些电容测量仪器也可以通过特殊的测试方式，来判断贴片电容击穿后的电容值。

综上所述，贴片电容击穿后能否测到其容值，取决于测试方法和设备的先进程度。对于一般情况下，击穿后的贴片电容很难准确测量其容值，但通过一些高级测试手段可能还是有一定的希望的。因此，在实际应用中，我们应当尽量避免贴片电容击穿，以确保整个电路的稳定性和可靠性。