在SMT（表面贴装技术）加工中，元器件的质量直接影响到整个电子产品的性能和稳定性，因此对元器件的故障检验也显得尤为重要。目前，一般采用两种方法对元器件故障进行检验，分别是目检和AOI检测。

首先来看目检方法，目检是利用人眼对元器件进行检查，对元器件外观进行观察和比对，以判断是否存在故障。目检方法简单直观，能够快速发现明显的缺陷，并且成本较低。但是目检方法存在着漏检和误判的问题，特别是对微小缺陷的检测效果并不理想。

而另一种方法是AOI（自动光学检测）检测，通过机器视觉系统对元器件进行自动检测，实现对元器件的高精度、高速度的检测。AOI检测方法具有自动化、高效率、高精度等优点，能够准确检测出隐藏的缺陷，避免了人为因素的介入，大大提高了检测的准确性和可靠性。

综上所述，目检方法和AOI检测方法各有优劣，目检方法适合快速初步筛查和简单元器件的检验，而AOI检测方法更适合对于高精度、高质量要求的元器件的检验。在实际生产中，可以根据具体情况灵活选择两种方法相结合，以保证元器件质量的稳定性和可靠性。随着科技的进步和自动化技术的不断发展，相信元器件故障检验的方法也将会不断完善和改进，为电子产业的发展提供更有力的支持。