
电路设计中常见错误汇总与规避技巧详解
2025-06-04 16:24:37
晨欣小编
一、电源设计常见错误及规避方法
1.1 忽视电源去耦电容布局
错误表现: 仅在电源输入端放置一个大容量电容,忽视关键IC附近的高速去耦。
后果分析:
高频噪声无法被滤除
电源纹波过大
易出现电源完整性(PI)问题
规避技巧:
在每个关键IC电源引脚附近放置0.1μF、1μF、10μF等组合电容
尽量靠近引脚布置,走线短粗
大容量电容远离芯片,负责低频滤波
1.2 电源与地的走线过细或共享
错误表现: 多个器件共用一条电源线或地线,宽度不足。
后果分析:
电压降过大,造成工作不稳定
地电位偏移,影响模拟电路精度
规避技巧:
电源线和地线根据电流密度计算宽度
高频电路尽量采用面(Plane)代替线
使用星形接地或多点接地,降低地电位差
二、信号布线相关错误与优化建议
2.1 信号走线太长或不合理绕行
错误表现: 高速信号路径复杂,绕来绕去。
后果分析:
信号延时和反射问题加重
容易引起串扰和EMI问题
规避技巧:
高频信号线优先布线,路径最短直线化
减少过孔数量,避免T型和交叉走线
差分线长度匹配,间距恒定
2.2 忽略阻抗匹配
错误表现: 高速信号线宽、介质层厚度未根据阻抗匹配要求计算
后果分析:
反射严重,信号完整性差
接收端信号畸变、误触发
规避技巧:
使用阻抗计算工具(如Polar、Altium)计算目标阻抗(一般为50Ω单端、100Ω差分)
按照板材、层叠结构定制走线宽度与间距
必要时添加串联电阻或终端电阻匹配
三、器件布局不合理导致的隐患
3.1 高频器件远离连接点
错误表现: 振荡器、放大器等高频元件远离负载或相关接口
后果分析:
信号路径过长,失真严重
EMC辐射风险上升
规避技巧:
高频器件靠近接口布局,路径尽量短直
模拟/数字/射频电路分区清晰
使用地隔离、屏蔽等方式降低干扰
3.2 器件引脚未考虑热设计
错误表现: 功耗器件(如LDO、MOSFET)布置紧密,缺乏散热通道
后果分析:
热堆积造成器件提前老化甚至烧毁
降低系统可靠性
规避技巧:
为发热器件设计散热铜皮与通孔
加入热敏器件监测或风冷系统
合理布局,避免功耗器件集中区域
四、地平面设计错误与电磁兼容问题
4.1 地平面被切割或不连续
错误表现: 多层PCB中地层穿孔、布线切割严重
后果分析:
信号回流路径中断,产生电磁干扰
共模干扰加剧,EMC测试不合格
规避技巧:
保持整块连续地平面
高速信号线不跨越地缝,保持同层回流路径
多地系统采用单点接地或过磁珠隔离
4.2 缺乏屏蔽与滤波措施
错误表现: 关键信号线裸露、接口处无滤波
后果分析:
EMI发射增强,干扰邻近电路
易受到外部EFT/ESD干扰
规避技巧:
外部接口加TVS二极管+磁珠+旁路电容组合
RF信号走线靠近地平面,必要时加屏蔽罩
布线远离边缘,降低天线效应
五、原理图设计错误类型与避免方式
5.1 引脚连接错误或悬空
错误表现: 模拟输入未接电位参考、控制引脚未定义状态
后果分析:
产生不可预知逻辑状态
系统工作不稳定
规避技巧:
每个IC引脚明确连接目的:输入、输出、NC、浮空
对未使用引脚按手册建议处理
设置ERC(Electrical Rule Check)校验规则
5.2 电源连接逻辑混乱
错误表现: 多个芯片供电共用不同电压电源
后果分析:
电压不兼容烧毁芯片
上电/掉电序问题引发锁死
规避技巧:
详细阅读芯片规格书,确认供电范围和电源顺序
用不同LDO或DC-DC隔离不同电压域
加入上电延时电路或电源管理芯片(PMIC)
六、测试与调试阶段常见设计遗漏
6.1 缺乏调试测试点
错误表现: PCB上无丝印测试孔或接口
后果分析:
调试困难,无法快速排查问题
维护维修周期长
规避技巧:
保留关键节点的测试点(如电源、时钟、复位线)
添加UART、JTAG等调试口
关键IO口可跳线切换或通过0Ω电阻灵活控制
6.2 接口静电防护缺失
错误表现: USB、HDMI等接口未做ESD保护设计
后果分析:
外部插拔时击穿芯片
系统稳定性下降
规避技巧:
所有外接接口加入TVS二极管
USB/HDMI等使用ESD阵列IC
保证地良好连接外壳接地面
七、总结与工程建议
电路设计过程中,很多错误表面看似微不足道,但在实际应用中可能导致严重后果。系统性、规范化、严谨性的设计流程才是避免错误、提升产品质量的关键。
建议工程师养成以下设计习惯:
设计前详细阅读器件Datasheet与应用指南
原理图、PCB双向联查,避免低级疏漏
使用EDA工具进行DRC/ERC校验
使用仿真工具验证信号完整性、电源完整性
每次设计都记录问题并总结Checklist以便后续复用