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如何测量电容的内阻

 

2025-04-17 10:19:33

晨欣小编

一、电容内阻的定义

1. 等效串联电阻(ESR)

ESR是电容器在高频信号下表现出的串联电阻,主要由以下因素构成:

  • 电极材料和导线电阻

  • 电介质介损(介质损耗)

  • 引脚或封装寄生电感、电阻

ESR越大,电容在交流信号中损耗越高,会导致热量增加、滤波性能下降、甚至器件损坏。

2. 漏电电阻(R_leak)

漏电电阻是并联在电容器两极之间的一个高阻值,反映了电容器绝缘不完全而导致的漏电流。尤其在模拟电路、长时间保持电压的电路中,R_leak对性能影响显著。


二、电容内阻为什么重要?

应用场景

内阻参数影响



电源滤波

ESR过高导致纹波增加、发热

高频旁路

ESR过高抑制能力下降

模拟采样保持

漏电阻过小信号泄漏严重

精密测量

ESR与R_leak影响电容精度

所以,在器件选型和故障分析中,准确测量内阻成为必要手段。


三、如何测量电容的内阻?(核心部分)

方法一:使用LCR数字电桥(推荐)

仪器推荐: Keysight E4980A、Hioki IM3536、Tonghui TH2832等

测量步骤:

  1. 将LCR表设置为串联模式(Series)

  2. 选择频率(如100Hz、1kHz、100kHz)

  3. 读取阻抗Z和相位角θ

  4. 根据公式计算:

ESR=Zcos(θ)\text{ESR} = |Z| \cdot \cos(\theta)ESR=∣Z∣⋅cos(θ)Xc=Zsin(θ)C=12πfXc\text{Xc} = |Z| \cdot \sin(\theta) \quad \Rightarrow C = \frac{1}{2\pi f Xc}Xc=∣Z∣⋅sin(θ)⇒C=2πfXc1

优点:

  • 测量快速,适用于批量测试

  • 自动显示ESR、电容值、Q值等

  • 可切换频率分析频域响应


方法二:示波器+函数信号源测量法(工程简易法)

测量原理:

在串联电容的电路中输入方波或正弦波,通过电阻与电容串联构成RC回路,使用示波器监控电压变化。

步骤:

  1. 用函数信号源输出已知频率正弦波

  2. 通过已知电阻与电容串联

  3. 使用示波器探头测电阻两端电压

  4. 用欧姆定律计算电阻上的电流,再换算出电容端的电压与电流关系,进而反推出ESR:

ESR=VESRI=VRIESR = \frac{V_{ESR}}{I} = \frac{V_R}{I}ESR=IVESR=IVR

注意:

  • 频率应选择在目标应用频段,如100kHz或1MHz

  • 电容与电阻选型需考虑相应阻抗匹配,避免极小电压无法检测


方法三:漏电电阻测量(适用于R_leak)

使用方法1:静态充放电法

  1. 用稳定直流电源给电容充电至一定电压

  2. 断开电源,记录放电过程中的电压随时间的变化

  3. 用以下公式反推出漏电电阻:

V(t)=V0etRleakCRleak=tCln(V/V0)V(t) = V_0 \cdot e^{-\frac{t}{R_{leak} \cdot C}} \quad \Rightarrow \quad R_{leak} = -\frac{t}{C \cdot \ln(V/V_0)}V(t)=V0⋅e−Rleak⋅Ct⇒Rleak=−C⋅ln(V/V0)t

使用方法2:高阻计法

借助兆欧表或高阻计直接测量电容两端的绝缘电阻,部分型号支持直接读取漏电流与R_leak。


四、不同类型电容内阻测量比较

电容类型

ESR特点

漏电特点

建议测量方式





铝电解电容

ESR较高

漏电明显

推荐LCR表测ESR、漏电法

陶瓷电容

ESR极低

漏电极小

高频测试专用LCR

钽电容

中等ESR

漏电较小

ESR+漏电组合测量

薄膜电容

极低ESR

漏电极小

高频阻抗分析仪


五、电容内阻测量中的注意事项

  1. 测量频率选择需贴合实际应用
    不同频率下ESR不同,高频电路推荐100kHz以上测量。

  2. 温度影响不可忽视
    ESR随温度升高而变化,尤其是电解类电容,建议温控测试。

  3. 测量引线电感补偿
    高频测量中,仪器线缆自身电感会干扰ESR计算,可采用四线式夹具测量。

  4. 电容容量对测量误差影响
    小电容(如pF级)需更高精度仪器,如Keysight E4990A等。


六、电容内阻测量的工程意义

  • 品质控制:筛选出ESR超标的劣质电容,防止高温老化

  • 电源稳定性:保证滤波性能,减少输出纹波

  • 产品可靠性:判断电容老化趋势,规划更换周期

  • 射频与高速设计:评估电容在GHz环境下的表现


 

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